Американские физики разработали метод картирования температуры и теплового коэффициента расширения в двумерных кристаллах с пространственным разрешением до двух нанометров. Метод, основанный на использовании электронной микроскопии и анализе спектров энергетических потерь электронов, в частности, показал, что тепловой коэффициент расширения двумерных и трехмерных кристаллов одного состава может отличаться почти в 50 раз, пишут ученые в .
COM_SPPAGEBUILDER_NO_ITEMS_FOUND