Американские физики разработали метод построения тепловых карт образцов, которые исследуются с помощью оптического микроскопа с микрометровым разрешением. Для этого не нужно никак менять оптическую схему прибора, необходимо лишь нанести на поверхность предметного стекла трехслойную пленку нанометровой толщины. В результате при колебаниях температуры будет меняться доля отраженного света, пишут ученые в .
COM_SPPAGEBUILDER_NO_ITEMS_FOUND